高溫烘烤試驗(yàn)
高溫烘烤試驗(yàn)又稱高溫老化試驗(yàn),從屬于老化測(cè)試。與普通的高溫試驗(yàn)不同的是,高溫烘烤的溫度較高,且沒(méi)有濕度條件。高溫烘烤試驗(yàn)主要適用于電子,電工,儀表,材料,半導(dǎo)體等生產(chǎn)企業(yè)對(duì)非易爆物進(jìn)行干燥,烘焙及熱處理,特別適用于LED,LCD在英晶體,電容,電阻,等要求高恒精度和可靠性的產(chǎn)品過(guò)程的烘干和老化。此類高溫老化試驗(yàn)一般采用高溫烘箱來(lái)完成。
高溫烘烤試驗(yàn)應(yīng)用領(lǐng)域:
道路交通類:道路車輛電子電氣設(shè)備、軌道交通機(jī)車車輛設(shè)備與裝置、汽車零部件等
計(jì)算機(jī)類:電腦、顯示屏、主機(jī)、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等
電子通信類:手機(jī)、射頻器、電子通信元器件等,PCB、PCBA。
電器類:家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備、儀器儀表、醫(yī)療器械;
高溫烘烤試驗(yàn)參考標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2等。
上一個(gè):耐劃傷摩擦測(cè)試
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下一個(gè):碰撞測(cè)試
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