連接器接觸電阻測(cè)試
接觸電阻就是電流流過(guò)閉合的接觸點(diǎn)對(duì)時(shí)的電阻.
測(cè)試方法
接觸電阻的測(cè)量一般都采用開(kāi)爾文四線法原理。 開(kāi)爾文四線法連接有兩個(gè)要求：對(duì)于每個(gè)測(cè)試點(diǎn)都 有一條激勵(lì)線F和一條檢測(cè)線S，二者嚴(yán)格分開(kāi)，各 自構(gòu)成獨(dú)立回路；同時(shí)要求S線必須接到一個(gè)有極 高輸入阻抗的測(cè)試回路上，使流過(guò)檢測(cè)線S的電流 極小，近似為零.
向左轉(zhuǎn)向右轉(zhuǎn)
見(jiàn)圖1。圖1中r表示引線電阻和探 針與測(cè)試點(diǎn)的接觸電阻之和。由于流過(guò)測(cè)試回路的 電流為零，在 r3，r4上的壓降也為零，而激勵(lì)電流 I在r1，r2上的壓降不影響I在被測(cè)電阻上的壓降，所 以電壓表測(cè)出的電壓降即為Rt兩端的電壓值。從而 準(zhǔn)確測(cè)量出R t的阻值。測(cè)試結(jié)果和r無(wú)關(guān),有效地減 小了測(cè)量誤差。
接觸電阻測(cè)量原理:由于四線法測(cè)量接觸電阻采用10mA/100mA的 恒流源，故測(cè)量接觸電阻的實(shí)質(zhì)是測(cè)量微動(dòng)接觸電 壓。
使用Chroma毫歐姆表測(cè)量接觸電阻的原理見(jiàn) 圖2：
接觸電阻測(cè)量原理:圖2所測(cè)電阻即為接點(diǎn)接觸時(shí)的電阻，其中的恒 流源用來(lái)為接觸區(qū)域提供電流I，電壓表用來(lái)測(cè)量 P+和P-之間的電壓降V，由于電壓表內(nèi)阻相對(duì)于所 測(cè)接觸電阻來(lái)說(shuō)相當(dāng)大(大到使電壓表上分得的電流 可以忽略不計(jì))，可以認(rèn)為電壓表所測(cè)電壓V即為P+ 和P-之間的電壓值，從而電壓V與電流I的比值即為 電阻值。但由于接觸區(qū)域非常小，按圖中的接線得 到的是P+和P-之間的電阻值。為了使測(cè)得的數(shù)據(jù)盡 量接近真實(shí)的接觸電阻值，應(yīng)使得P+和P-接線端盡 量靠近接觸區(qū)域 ，避免在測(cè)量結(jié)果中計(jì)入測(cè)試引線 和體積電阻產(chǎn)生的電壓降 。
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