電磁兼容性（EMC）是電子設備存在于電磁環(huán)境中而不會對該環(huán)境中的其他電子設備造成干擾或干擾的能力。

EMC通常分為兩類：

1.輻射 - 電子設備發(fā)出的電磁干擾可能會對同一環(huán)境中的其他電子設備造成干擾/故障。也稱為電磁干擾（EMI）。

2.免疫/易感性 - 免疫是指電子設備在電磁環(huán)境中正常運行而不會因其他電子設備發(fā)出的輻射而發(fā)生干擾/故障的能力，易感性基本上與免疫力相反，因為設備對電磁干擾的免疫力越小，它就越容易受到影響，通常抗擾度測試是不是必需的用于在澳大利亞，新西蘭，北美和加拿大銷售/分銷消費/商用型產品。

電磁兼容性排放

EMC排放進一步細分為兩類：

1.輻射排放

2.進行排放

電磁場由以下部分組成：

1.電場（電場） - 通常以伏/米（V / M）為單位測量

2.磁場（H場） - 通常以每米安培（A / m）為單位測量

電磁場的這兩個分量本身是兩個獨立的場，但不是完全獨立的現象。電場和H場彼此成直角移動。

輻射發(fā)射（E-Field）：

輻射發(fā)射是源自電子或電氣設備內部產生的頻率的電磁干擾（EMI）或干擾。輻射發(fā)射可能會帶來嚴苛的合規(guī)性問題，對于一些一般性指導，請查看我們的文章 EMC輻射發(fā)射常見問題和解決方案。輻射發(fā)射直接從設備的機箱或通過互連電纜（如信號端口，有線端口，如電信端口或電源導線）通過空氣傳播。

一個很好的例子是HDMI端口和可以從這些電纜輻射的相關EMI，我們用它作為案例研究，文章可以在這里找到; 符合EMC輻射發(fā)射測試（EMI）。在EMC測試期間，使用頻譜分析儀和/或EMI接收器以及合適的測量天線進行輻射發(fā)射測量。

EMC輻射發(fā)射測試方法

輻射發(fā)射（H場）：電磁波的磁性成分使用頻譜分析儀和/或EMI接收器以及合適的測量天線。典型的磁場天線包括環(huán)形天線，并且還包括根據CISPR 15的特定天線，例如Van Veen Loop。Van Veen環(huán)形天線基本上是三個環(huán)形天線，它們一起構成三個軸（X，Y和Z）的產品磁場發(fā)射。

傳導發(fā)射（連續(xù)和不連續(xù)）：

傳導發(fā)射是電磁干擾（EMI）或源自電子或電氣設備內部產生的頻率的干擾。然后，這些發(fā)射沿著互連的電纜傳播，例如有線端口，例如電信端口或電力導線。這些發(fā)射可以是連續(xù)的（在給定頻率下連續(xù)發(fā)射），也可以是不連續(xù)的（非常數，偶爾發(fā)生）。

在EMC測試期間，通過位于測試室內的ISN（阻抗穩(wěn)定網絡）在EMI接收器上進行傳導發(fā)射測量。

電磁兼容性抗擾度

EMC抗擾度測試可