生活中我們的手機(jī)難免會(huì)不小心從桌子上摔下來、按電源鍵用力過猛、隨意把耳機(jī)用力拔出、夏季把手機(jī)放口袋里手機(jī)此時(shí)溫度上升和環(huán)境潮濕折磨、邊充電邊玩手機(jī)容易導(dǎo)致手機(jī)爆炸等等這些我們與手機(jī)發(fā)生的事情都可以和可靠性測(cè)試聯(lián)系在一起。

企業(yè)在進(jìn)行產(chǎn)品導(dǎo)入生產(chǎn)之前，一般都會(huì)對(duì)手機(jī)產(chǎn)品進(jìn)行各類測(cè)試，簡(jiǎn)單的說包括硬件測(cè)試，軟件測(cè)試，可靠性測(cè)試。本文主要講的是手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試。

手機(jī)的可靠性測(cè)試分為環(huán)境測(cè)試，機(jī)械測(cè)試，壽命測(cè)試，表面處理測(cè)試，三防測(cè)試。

環(huán)境類測(cè)試簡(jiǎn)單的分為高低溫環(huán)境測(cè)試、極限溫度充電測(cè)試、鹽霧測(cè)試、ESD測(cè)試、溫升測(cè)試等等；由于手機(jī)是移動(dòng)設(shè)備，這就決定了它隨時(shí)會(huì)面臨冬天的嚴(yán)寒與靜電，夏季的酷暑與潮濕，而高低溫環(huán)境測(cè)試就是為了避免手機(jī)產(chǎn)生嚴(yán)重失效現(xiàn)象而進(jìn)行的測(cè)試。最為容易想象的就是高低溫環(huán)境測(cè)試，它會(huì)給予手機(jī)一個(gè)初始測(cè)試狀態(tài)如待機(jī)、關(guān)機(jī)或者充電，定時(shí)檢查手機(jī)在測(cè)試中的狀況。

機(jī)械類測(cè)試簡(jiǎn)單分為定向跌落、自由跌落、重復(fù)跌落、滾筒跌落、軟壓測(cè)試、小球沖擊、硬壓測(cè)試、水波紋測(cè)試、USB/耳機(jī)接口推力測(cè)試、正弦振動(dòng)測(cè)試、沙塵實(shí)驗(yàn)、包裝振動(dòng)、包裝跌落等等；這類測(cè)試大多數(shù)屬于破壞性的測(cè)試，我們可以理解成測(cè)試產(chǎn)品的一個(gè)極限狀態(tài)。簡(jiǎn)單的說就是看看產(chǎn)品的可靠度，比如10厘米的微跌測(cè)試，對(duì)手機(jī)的正面和反面各微跌200次，手機(jī)LCD不能出現(xiàn)白點(diǎn)或者白斑，TP滑動(dòng)功能全領(lǐng)域有效，如果測(cè)試通過我們認(rèn)為該產(chǎn)品在這方面具備可靠度。

壽命類測(cè)試簡(jiǎn)單分為SIM/T卡接入和拔出測(cè)試、USBUSB/耳機(jī)接口接入和拔出測(cè)試、按鍵測(cè)試、馬達(dá)測(cè)試、揚(yáng)聲器測(cè)試、受話器測(cè)試、觸摸屏點(diǎn)擊測(cè)試、觸摸屏劃線測(cè)試、聽筒壽命測(cè)試等等；以上談到的壽命測(cè)試均屬于加速壽命測(cè)試，測(cè)試主要目的是縮短測(cè)試周期，降低生產(chǎn)成本，讓產(chǎn)品在短時(shí)間內(nèi)盡可能暴露產(chǎn)品的缺陷，評(píng)估產(chǎn)品的穩(wěn)定性。

表面處理類測(cè)試簡(jiǎn)單分為紙帶耐磨測(cè)試、硬度測(cè)試、噴涂百格測(cè)試、耐醇性測(cè)試、化妝品測(cè)試、耐壓測(cè)試、振動(dòng)耐磨測(cè)試等等；

三防測(cè)試簡(jiǎn)單分為防塵、防水、跌落震動(dòng)。

可靠性測(cè)試需要對(duì)過程的失效現(xiàn)象進(jìn)行分析，所以在進(jìn)行可靠性試驗(yàn)時(shí)，必須時(shí)刻注意產(chǎn)品的測(cè)試過程。把測(cè)試過程中的失效現(xiàn)象準(zhǔn)確詳細(xì)的描述出來十分重要，測(cè)試本身是發(fā)現(xiàn)問題，從而才能便于后續(xù)分析，為解決問題奠定基礎(chǔ)。

總的來說測(cè)試的本質(zhì)是發(fā)現(xiàn)問題協(xié)助解決問題，而不是傳遞問題，如果是傳遞問題，那么測(cè)試就失去了它原有的意義。