電磁兼容領(lǐng)域，靜電放電抗擾度試驗(yàn)是不可或缺的一部分。這項(xiàng)試驗(yàn)可以確保您的產(chǎn)品在受到靜電放電干擾時(shí)仍能正常工作，從而提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性。靜電放電即ESD（Electro-Staticdischarge），是指具有不同靜電電位的物體互相靠近或直接接觸引起的電荷轉(zhuǎn)移。對(duì)不同使用環(huán)境、不同用途、不同ESD敏感度的電子產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)對(duì)靜電放電抗擾度試驗(yàn)的要求是不同的，但這些標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于 ESD抗擾度試驗(yàn)大多都直接或間接引用 GB/T17626.2-2018，IEC 61000-4-2：2008 《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)》這一國(guó)家電磁兼容基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)，并按其中的試驗(yàn)方法進(jìn)行試驗(yàn)。ESD靜電測(cè)試儀通過模擬真實(shí)的靜電放電事件，將靜電電荷注入被測(cè)試物體，并測(cè)量和分析其放電現(xiàn)象，以評(píng)估物體的防護(hù)性能和敏感性。這些測(cè)試結(jié)果可以幫助制造商和設(shè)計(jì)者改進(jìn)產(chǎn)品和設(shè)備的靜電控制措施，從而提高其可靠性和抗干擾能力。

一、試驗(yàn)對(duì)象
處于靜電放電環(huán)境中和安裝條件下的裝置、系統(tǒng)、子系統(tǒng)和外部設(shè)備。
二、試驗(yàn)內(nèi)容
接觸放電（金屬部分）;
空氣放電（非金屬部分）;
間接放電 水平耦合HCP,垂直耦合VCP。
三、試驗(yàn)等級(jí)
標(biāo)準(zhǔn)將試驗(yàn)等級(jí)分成四級(jí)：對(duì)接觸放電分別設(shè)為2kV，4kV，6kV和8kV;對(duì)氣隙放電分別設(shè)為2kV，4kV，8kV和15kV。
靜電放電的起因有多種，但該標(biāo)準(zhǔn)主要描述在低濕度情況下，通過摩擦等因素，使操作者積累了靜電。電子和電氣設(shè)備遭受直接來自操作者的靜電放電和對(duì)臨近物體的靜電放電時(shí)的抗擾度要求和試驗(yàn)方法。

四、試驗(yàn)?zāi)康?br/>試驗(yàn)單個(gè)設(shè)備或系統(tǒng)的抗靜電干擾的能力。它模擬：

（1）操作人員或物體在接觸設(shè)備時(shí)的放電。

（2）人或物體對(duì)鄰近物體的放電。
五、靜電放電造成后果
通過直接放電能量交換，引起設(shè)備中半導(dǎo)體器件的損壞，從而造成設(shè)備的永久性失效。
由放電（可能是直接放電，也可能是間接放電）而引起的近場(chǎng)電磁場(chǎng)變化，造成設(shè)備的誤動(dòng)作。
六、檢測(cè)結(jié)果的評(píng)價(jià)
A級(jí)：在制造廠或委托方或用戶規(guī)定的技術(shù)范圍限值內(nèi)性能正常；

B級(jí)：功能暫時(shí)喪失或性能暫時(shí)降低，但在騷擾停止后EUT能自行恢復(fù)，無(wú)需操作者干預(yù)；

C級(jí)：功能暫時(shí)喪失或性能暫時(shí)降低，但需操作者干預(yù)才能恢復(fù)正常；

D級(jí)：因硬件或功能損壞，或數(shù)據(jù)丟失而造成不能自行恢復(fù)至正常狀態(tài)的功能降低或喪失。

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