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異物分析測試方法,異物分析,專門針對產(chǎn)品上的微小嵌入異物或表面污染物、析出物的分析技術(shù)。例如對表面嵌入或析出的顆粒物、小分子遷移物、斑點(diǎn)、油狀物、霧狀物、橡膠噴霜等異常物質(zhì)進(jìn)行定性分析,藉此找尋污染源或配方不相容者,是改善產(chǎn)品最常用的分析方法之一。
當(dāng)材料及零部件表面出現(xiàn)未知物質(zhì),不能確定其成分及來源時(shí),可以通過對異物進(jìn)行微觀形貌觀察和成分分析進(jìn)行判斷。
測試方法:異物分析主要涉及三個(gè)方面,一是異物的有機(jī)物結(jié)構(gòu)分析,主要用紅外顯微鏡-FTIR;二是異物或材料表面的元素成分分析,主要用電子探針(EPMA)、掃描電鏡能譜儀(SEM-EDX)、多功能光電子能譜儀(XPS)、能量色散型微區(qū)X 射線熒光光譜儀(μEDX)等;三是表面觀察,主要用光學(xué)顯微鏡(OM)和電子顯微鏡(比如SEM)。應(yīng)用范圍:廣泛應(yīng)用于化工產(chǎn)品、航空產(chǎn)品及其零部件、汽車產(chǎn)品及其零部件、LCM系列產(chǎn)品、PCB&PCBA、電子元件及半導(dǎo)體產(chǎn)品等。
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